В методе рентгенографии полуширина дифракционной линии, т.е. расстояние между точками, в которых интенсивность составляет половину максимальной интенсивности В связана с размерами кристаллита L следующим образом:

- коэффициент, зависящий от формы кристаллита (если форма кристаллита неизвестна, то полагают # = 0,9).

Для того чтобы получить более точное значение полуширины линии, снимают рентгенограмму эталонного вещества, в качестве которого обычно используют монокристалл. На дифракционной кривой эталона ширина линии Взт уже не зависит от размеров кристаллитов, а определяется только условиями съемки и естественной шириной линии. Таким образом, определив экспериментально для исследуемого полимерного образца ширину линии Вэкс„, находят значение В:

, после чего можно найти размер кристаллита.

При исследовании методом ЭПР частота вращения радикала-зонда не зависит от размеров сферолитов при их увеличении до 500 мкм.

При увеличении размеров сферолитных структур в результате образования микротрещин возрастает скорость потока частиц через полимер (проницаемость и электропроводность) [19].